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            咨詢熱線

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            20Hz-1MHZ低頻介電常數介質損耗測定儀

            簡要描述:20Hz-1MHZ低頻介電常數介質損耗測定儀測試絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

            • 產品型號:
            • 廠商性質:其他
            • 更新時間:2020-08-19
            • 訪  問  量:740

            詳細介紹

            20Hz-1MHZ范圍測量參數:

             

            測量功能

            測試頻率

            20Hz-1MHz,10mHz分辨率

             

            測試參數

            |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR

            基本測量準確度

            0.05%

            等效電路

            串聯, 并聯

            數學功能

            值偏差, 百分比偏差

            量程方式

            自動, 保持, 手動選擇

            觸發方式

            內部, 手動, 外部, 總線

            測量速度(≥1kHz)

            快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒

            平均次數

            1—255

            延時時間

            0—60s, 以1ms步進

            校準功能

            開路/ 短路/ 負載

            測試端配置

            五端

            列表掃描

            10點列表掃描功能

            顯示方式

            直讀,Δ,Δ%,V/I(被測電壓/電流監視)

            顯示器

            800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD顯示器

            測試信號

            輸出阻抗

            30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可選擇

            測試信號電平

            正常:  5mV-2V,  1mV步進
            恒電平:10mV-1V, 1mV步進

            偏置源

            內部

            0V, 1.5V, 2V

            選配

            UC6802A:±10V(±100mA)直流偏置電流

            UC6802B:0-1A直流偏置電流

            顯示范圍

            |Z|, R, X

            0.01mΩ —99.9999 MΩ

            DCR

            0.01 mΩ —99.9999 MΩ

            |Y|, G, B

            0.00001µS —99.9999 S

            C

            0.00001 pF —9.9999 F

            L

            0.00001 µH —9999.99 H

            D

            0.00001 —9.9999

            Q

            0.00001 —9999.9

            θ(DEG)

            -179.999º —179.999 º

            θ(RAD)

            -3.14159 —3.14159

            其他

            比較器功能

            十檔:(九檔合格,一檔不合格),另有一個附屬檔AUX

            存儲器

            10組內部儀器設定供存儲/調用

            接口

            標配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳機接口

             

             

             S916(數顯)介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置:

            固體:材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選;厚度可調 ≥ 15mm (二選一)  

            液體:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm(選配)

             

            四 AS2838/78低頻介電常數及介質蒜損耗測試系統主要測試材料:

            1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA

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            • 聯系人:顏珊
            • 地址:上海市嘉定區綠苑路300號
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